しみず りゅういち 志水 隆一弁護士
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高等研報告書1006 文化財保全技術 著者・監修者等 志水隆一(研究代表者) 発売 2011/04/16 出版 国際高等研究所 | |
表面分析:SIMS―二次イオン質量分析法の基礎と応用 著者・監修者等 デビッドブリッグス マーティン・P.シーア D.Briggs M.P.Seah 志水隆一 二瓶好正 発売 2003/07/01 出版 アグネ承風社 | |
マイクロビームアナリシス―現状と展望 (学振新書 9) 著者・監修者等 志水隆一 丸勢進 発売 1992/01/01 出版 日本学術振興会 | |
表面分析―基礎と応用〈下巻〉 著者・監修者等 D.ブリッグス M.P.シーア 志水隆一 合志陽一 表面分析研究会 発売 1990/10/01 出版 アグネ | |
表面分析―基礎と応用〈上巻〉 著者・監修者等 D.ブリッグス M.P.シーア 志水隆一 合志陽一 表面分析研究会 発売 1990/07/01 出版 アグネ | |
ユーザーのための実用オージェ電子分光法 著者・監修者等 志水隆一 吉原一紘 発売 1989/06/01 出版 共立出版 |